난치성 간질환자의 수술전 검사에서 뇌경막하 전극의 이용에 관한 임상연구

Abstract

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난치성 간질환자의 수술에서 좋은 결과를 위한 중요한 인자는 간질유발부위를 정확하게 알아내는데 있다. 그러나, 수술전의 다양한 검사결과들이 어느 국소부위에 일치된 소견이 보인다면 수술계획을 비교적 쉽게 세울 수 있으나, 간질파의 시작부위가 애매한 경우에는 수술여부와 수술 위치의 결정을 위해서는 두개강내 전극을 이용한 검사가 필요하다. 두개강내에 전극을 넣는 방법은 흔히 2~8개의 뇌경막하 전극(subdural electrode)을 뇌 표면으로 넣는 방법과, 4~10개이상의 심부 전극(depth electrode)을 뇌실질속으로 관통하여 넣는 다소 침습적인 방법이 있다. 이에 저자들은 본원에서 주로 사용하고 있는 뇌경막하 전극(subdural strip electrode)의 적응기준과 그결과를 통해, 침습검사(invasive recording)의 이용에 관한 지표로 삼기위해, 1993년부터 시술, 검사한 첫 50례의 경험을 분석하였다. 적응기준을 보면 간질 시작부위의 측방화가 불분명한 경우(46%)와, 술전검사의 불일치(34%), 그리고 외측두엽(extratemporal)이 의심되는 경우(20%) 등이었다. 두개강내 전극 삽입후 지속적 뇌파-비디오 검사는 평균 4.3일 (2~14일) 시행하였고, 발작은 평균 5.9회 관찰, 분석하였는데, 그 결과 34례(68%)에서 국소 제거수술을 위한 충분한 소견이 보였다. 특히 측두엽간질인 경우에는, 뇌경막하 전극(subdural strip electrode)을 측두엽 기저부를 통해 내측의 부해마회(parahippocampal gyrus)에 까지 위치시켜 양측을 비교해야 한다. 전례에서 출혈이나 감염 등의 합병증은 없었다. 따라서 뇌경막하 전극(subdural strip electrode)의 시술은 안전하고 용이하며, 그 효용성에서도 난치성 간질의 해결에 많은 도움을 줄 수 있는 방법이다.